OUR SERVICES
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope :SEM)
เป็นกล้องที่มีกําลังขยายสูง สามารถส่องโครงสร้างขนาดเล็กระดับนาโนเมตรถึงไมโครเมตร โดยยิงอิเล็กตรอนลงบนผิววัสดุนั้น แล้วนำสัญญาณที่ได้แปลงกลับไปเป็นภาพ
เป็นกล้องที่มีกําลังขยายสูง สามารถส่องโครงสร้างขนาดเล็กระดับนาโนเมตรถึงไมโครเมตร โดยยิงอิเล็กตรอนลงบนผิววัสดุนั้น แล้วนำสัญญาณที่ได้แปลงกลับไปเป็นภาพ